微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀測(cè)試時(shí)df/dt值。在此測(cè)試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時(shí)，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。
  低電壓閉鎖

  該頁與上文中的“df/dt閉鎖”和“dv/dt閉鎖”相似。下面僅介紹不同點(diǎn)。

  電壓測(cè)試范圍

  測(cè)試時(shí)電壓在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試，每輪測(cè)試時(shí)頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時(shí)裝置解除閉鎖正確動(dòng)作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值。

  由于裝置在電壓小于閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，故一般變化始值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動(dòng)作到動(dòng)作，從而測(cè)出裝置的低電壓閉鎖值。